隨著各國電磁兼容標準的推廣和實施，人們越來越重視產品的電磁兼容性問題，各大電子設備制造商也越來越注重產品的電磁兼容性測試，特別是電磁輻射騷擾是否達到相關標準要求。在輻射騷擾測試中，場地對測試結果的影響非常明顯。在不同的測試場地，相同的儀器儀表會得到不同的測量結果，所以各個暗室的測試數(shù)據(jù)存在著差異。EN55022:2010是歐洲旨在對適用范圍內的信息技術設備無線電騷擾電平給出統(tǒng)一要求的試驗標準，規(guī)定了騷擾限值、測量方法、運行條件和結果的處理要求。EN 55022:2010 輻射騷擾試驗中，臺式設備要求放置在非金屬的桌子上，如圖1所示。標準中只提到桌面的大小通常為1.5m×1.0m，而對試驗桌的材質沒有明確規(guī)定。由于不同材料制作的試驗桌介電常數(shù)不同，導致輻射騷擾測試結果不同。本文就試驗桌對輻射騷擾測量的影響進行定量分析。

1 試驗桌對場地性能的影響
     EN 55022:2010 規(guī)定，輻射騷擾試驗要在開闊試驗場地進行。開闊試驗場地應平坦、無架空電力線、附近無反射物，場地足夠大，以便能在規(guī)定距離處放置天線，并使天線、受測設備和反射物體之間有足夠的間隔。但是隨著社會的發(fā)展，要尋找一塊符合要求的理想場地十分困難，所以電波暗室作為開闊試驗場的可替換場地被廣泛應用。標準中規(guī)定，歸一化場地衰減（簡稱NSA）是證明電波暗室是否能獲得有效結果的關鍵指標。電波暗室是為模擬開闊試驗場地而建造的，電波暗室的歸一化場地衰減應該與開闊場地的差值小于4dB，以證明兩者的相似程度。
采用歸一化場地衰減試驗方法驗證試驗桌對試驗結果的影響，如圖2所示。

在10m暗室無測試桌的情況下，用信號源分別通過雙錐天線（頻率30~250MHz）和對數(shù)天線（頻率250~1000MHz）發(fā)射電磁波。用接收機和另一組雙錐天線和對數(shù)天線測得一組場地衰減數(shù)據(jù)。歸一化場地衰減的計算公式

AN = VT - VR - AFT - AFR - ΔAFTOT

式中：VT —— 發(fā)射天線輸入電壓，dBμV； VR —— 接收天線輸出電壓，dBμV； AFT —— 發(fā)射天線的天線系數(shù)，dB； AFR ——接收天線的天線系數(shù)，dB；

ΔAFTOT —— 互阻抗修正系數(shù)，dB（僅適用 于用偶極子天線測量、且測量距離為 3 m 時的情況， 除此之外，ΔAFTOT = 0）

表 1 雙錐天線和對數(shù)天線測得的場地衰減數(shù)據(jù)

表 1 中，Aideal 為標準的歸一化場地衰減值，偏差為 Aideal 減去 AN，且均小于 4 dB。

然后分別在采用泡沫桌和木桌情況下測得另兩組場地衰減數(shù)據(jù)，如圖 3 和圖 4 所示。

對三組場地衰減數(shù)據(jù)進行比較，如圖 5 所示。 

2試驗桌對輻射騷擾試驗測量結果的影響分析
現(xiàn)將同一信號源分別放置在泡沫桌（如圖 6 所示）和木桌（如圖 7 所示）上，接收天線在距離信號源 10 m 處分別測量輻射騷擾。

測試得到的數(shù)據(jù)如圖 8 所示。

  從圖 8 中可看出，在頻率范圍 700~900 MHz 輻射騷擾試驗結果存在較大差異，其中在 800 MHz 處差異達到了 5.3 dB，而在 GB/T 6113.402-2006《無線 電騷擾和抗擾度測量設備和測量方法規(guī)范第 4-2 部分：不確定度、統(tǒng)計學和限值建模測量設備和設施的不確定度》中提到，輻射騷擾測量的不確定度最大允許值為 5.2 dB。可見不同材質試驗桌造成的輻射騷擾差異超出了標準規(guī)定的不確定度。

     3 結語
     從圖 5 和圖 8 中不難看出，不同材質的試驗桌產生最大差異的頻率相同，均在 700~900 MHz 之間。
     由前述歸一化場衰減的計算公式可以得出：
     VR = VT - AFT - AFR - ΔAFTOT - AN

     因泡沫的介電常數(shù)接近空氣，比木頭小，所以暗室使用泡沫桌時測得的場地衰減數(shù)據(jù)與無測試桌相似；而當暗室使用木桌時，測得的場地衰減數(shù)據(jù)與無測試桌時的數(shù)據(jù)存在較大差異。因木桌較大的介電常數(shù)使圖 5 中使用木桌的暗室場地衰減 AN 偏大， 在AFT、AFR、ΔAFTOT 不變的情況下接收機測得的最大測量電平值 VR 將減小。
     所以，當電波暗室使用木桌或其他較大介電常數(shù)材質制作的試驗桌等輔助設施時，會使場地衰減AN 增大而導致接收機測得的電場強度減小，使測試結果造成差異。試驗桌等輔助設備是試驗場地有效性中不可分割的一部分，因此建議，在選擇暗室輔助設施時選擇介電常數(shù)小的材質，并進行場地衰減的測量比較，以保障各暗室測量結果的一致性。